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超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測之電阻法
發(fā)布日期：2017/07/10超細(xì)粉體粒度檢測的方法我們已經(jīng)介紹過激光衍射散射法(激光粒度分析儀)，離心沉降法和顆粒圖像處理儀的方法， 錫成銘粉體干燥設(shè)備有限公司給大家介紹 一種方法，超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測之電阻法也叫做庫爾特顆粒計數(shù)器方法。
庫爾特計數(shù)器其原理基于小孔電阻原理，即當(dāng)小孔內(nèi)有顆粒通過時，會引起小孔兩端的電阻發(fā)生變化。不同粒徑的顆粒引起的電阻變化不同，電阻增量正比于顆粒體積。當(dāng)電源是恒流源時，兩極之間會產(chǎn)生一個電壓脈沖，其峰值正比于小孔電阻的增量，也正比于顆粒體積。只要準(zhǔn)確測量出每一個電壓脈沖的峰值，即可計算出各個顆粒的大小，并統(tǒng)計出粒度分布。
電阻法的特點：
1、分辨率高，是現(xiàn)有各種粒度測定儀中 的。
2、測量速度快，測定一個樣品一般只需15分鐘左右。
3、重復(fù)性好，每次要測量1萬個左右的顆粒，代表性較好。
4、操作簡單，認(rèn)為誤差影響小。
電阻法測量的主要缺點為：
1、動態(tài)范圍較小，對同一個小孔管，動態(tài)測量范圍為20：1.
2、容易發(fā)生堵孔故障，使測量不能繼續(xù)進(jìn)行。
3、測量下限不夠小，小孔越小，越容易發(fā)生堵孔，對電解質(zhì)的雜質(zhì)含量要求嚴(yán)格，一般測量下限為1um。
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